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基于三维X射线显微镜的孔隙性砂岩中变形带微观结构解析

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摘要:

孔隙性砂岩中变形带对揭示其相关地质作用过程和工程应用具有重要的意义,而其微观结构是其相关科学与工程研究的关键点。常规的岩石微观结构分析手段对于全面解析岩石内部的微观结构具有一定的局限性,而近年发展起来的三维X射线显微成像技术可以无损地获得岩石内部微米尺度的三维精细数字化图像,是建立岩石微观结构并对其进行解析的有效手段。通过三维X射线显微镜对孔隙性砂岩中变形带扫面,建立了高分辨率三维微观结构图像,利用高密度切片图像,对其微观结构特征进行解析。根据变形带微观产出状带和颗粒破碎过程的解析,建立颗粒破碎-破碎颗粒与残余破碎颗粒重新排列-局部颗粒破碎带-弱颗粒破碎变形带-强颗粒破碎变形带-强弱颗粒破碎变形带相间排列-簇状变形带的完整时间发育序列。

作者: 渠芳,连承波,柴震翰,任冠雄
作者单位: 1.油气藏地质及开发工程国家重点实验室,成都610500

2.西南石油大学地球科学与技术学院,成都610500

期刊: CT理论与应用研究
年.卷(期):页码 2019.28(2):167-174
中图分类号: P315
DOI: doi:10.15953/j.1004-4140.2019.28.02.02
关键词: 三维X射线显微镜;孔隙性砂岩;变形带;微观结构;发育序列

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