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X-CT金属伪影校正方法综述

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摘要: X-CT成像系统中,当被检测物体中含有金属等高密度物质时,对投影数据重建后,重建图像中将出现放射状伪影或带状伪影。这些伪影严重影响了图像的质量,给人们的判断带来极大困难。金属伪影的校正已成为CT技术中的研究难点和热点。本文阐述了金属伪影产生的原因,就近些年出现的金属伪影校正方法进行归纳总结,并对金属伪影校正方法研究的前景进行讨论。
作者: 李庆亮,闫镔,孙红胜,李磊,张峰
作者单位: (信息工程大学电子科学与技术系,郑州450002)
期刊: CT理论与应用研究
年.卷(期):页码 2011.20(1):131-140
中图分类号: TP301.6
DOI: 1004-4140(2011)01-0131-10
关键词: 计算机断层成像;金属伪影;插值法;迭代法

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