请您登录后下载
用户名:
密码:
验证码:   验证码,不区分大小写,点击更换验证码
一个月内自动登录  忘记密码?
 

×

您当前的位置:首页 >> 文章简介

多能谱X射线成像技术及其在CT中的应用

查看全文 下载全文
下载PDF阅读器


摘要: 随着探测器技术的不断发展,具有能谱分辨能力的光子计数探测器成为人们研究的焦点,并在X射线成像领域开始得到应用。使用该种探测器,可以将具有较宽能谱分布的X射线分为不同的能区分别进行计数,获得详细的能谱信息及不同能量射线的衰减信息,由此引出了“多能谱成像”的概念。本文介绍了近些年来光子计数探测器技术的发展及其在X射线成像中的应用,同时分析了多能谱技术应用于CT成像所带来的一些优势,如降低辐射剂量、提高信噪比、提高物质识别精度、提高造影剂成像效果等。目前,许多研究机构都致力于研究更快速的电子学设备,以适应高计数率下快速成像的需求,随着多能谱成像技术研究的不断深入,必将为X射线成像及CT领域带来许多新的变革。
作者: 郝佳,张丽,陈志强,邢宇翔,康克军
作者单位: (清华大学 a.工程物理系;b.粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084)
期刊: CT理论与应用研究
年.卷(期):页码 2011.20(1):141-150
中图分类号: TP391
DOI: 1004-4140(2011)01-0141-10
关键词: 光子计数探测器;X射线成像;计算机断层扫描;多能谱技术

欢迎阅读《CT理论与应用研究》!您是该文第1080位读者!